INVESTIGADOR(ES) PRINCIPAL(ES):

Wilson Stibens Román Acevedo

0 horas

CODIGO CIE

E6-08-7

Henry Riascos Landazuri

Tutor

0 Horas

TIPO DE CONVOCATORIA

2008. Quinta Convocatoria

TIPO DE PROYECTO

Investigación Aplicada

OBJETIVO(S)

GENERAL Estudiar la influencia de las condiciones de crecimiento sobre las propiedades de las bicapas DLC/BN. ESPECÍFICOS: " Obtener espectros de difracción de Rayos x para determinar la cristalinidad de las películas. " Obtener el espesor de las Bicapas por medio de la Perfilometria. " Obtener la composición de la Bicapa a través de FTIR (espectroscopia infrarroja con transformada de furier). " Estudio de la morfología por medio de la técnica SEM (microscopia electrónica de barrido). " Obtener espectros de emisión de los plasmas por Espectroscopia de Emisión Óptica. " Estudio de la interfaz de la Bicapa DLC/BN. " Estudio de la composición porcentual de las Bicapas DLC/BN por medio de la técnica EDX. " Determinar el Perfil de penetración atreves de microscopia Auger. " Determinar la dureza del material por medio de la Nanoidentacion. " Determinación del coeficiente de fricción atreves de AFM (microscopia de fuerza atómica).

RESUMEN

Esta propuesta de trabajo experimental consiste en el crecimiento de películas delgadas de carbono tipo Diamante (DLC) y nitruro de boro en forma de Bicapas, sobre sustratos de silicio, nitruro de silicio y acero donde los dos primeros contienen una orientación cristalográfica (100), mediante un sistema de láser pulsado (Nd:YAG) con una energía de 500mJ y un pulso de 9 ns. Para el crecimiento de estos recubrimientos se utilizaron blancos de grafito y de nitruro de boro, ambos de alta pureza (99.99%), en una atmósfera de Ar. Las propiedades morfológicas mecánicas y estructurales se estudiaran variando las condiciones de trabajo como son la presión (con gas de argón), la temperatura del sustrato y la fluencia del laser. Para la caracterización de las películas delgadas se utilizaron diferentes técnicas como son difracción de rayos X (DRX), Espectroscopia Infrarroja con Transformada de Fourier (FTIR), Perfilometria, Espectroscopia de Emisión Óptica (EOS), fotoluminiscencia, Microscopia electrónica de barrido (SEM), Mediante difracción de rayos X se analiza la cristalinidad de las películas, y las fases presentes.

ESTADO

Concluido

FECHA DE INICIO

01/11/2008

FECHA DE FINALIZACION

01/04/2009

PRODUCTOS

Efecto de las condiciones de crecimiento sobre las propiedades de as bicapas DLC/BN obtenidas por deposición de laser pulsado(PLD)

Artículo publicado en Revista de divulgación

Nanoestructures based in boro nitride thin films deposited by PLD onto Si/Si3N4/DLC substrate

Ponencia en evento especializado

Películas delgadas de nitruro de boro

Artículos publicados en Revistas B, C ó D

Síntesis de Bicapas nanoestructuradas de DLC/BN sobre sustratos de Si/Si3N4 Mediante deposición de láser pulsado

Artículo publicado en Revista de divulgación